Вход на сайт

Фізична модель системи «УФ-лак—друкований відбиток

УДК 655.3.022.11:655.344:620.18
     Хохлова Р. А. (Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут» (Київ, Україна)
      Фізична модель системи «УФ-лак—друкований відбиток». — 2006. — № 1—2(11—12). — С. 97—100.
     Розроблено і описано фізичну модель системи «УФ-лак—друкований відбиток».
     Мова статті (укр.).
     Іл. 1. Бібліогр.: 11 назв.
 
PDF